獲得用戶(hù)好評(píng)的護(hù)套高溫壓力試驗(yàn)裝置  

護(hù)套高溫壓力試驗(yàn)裝置介紹：  

配合老化試驗(yàn)機(jī)做恒溫壓力試驗(yàn)，用于測(cè)量電線(xiàn)電纜絕緣和外被在高溫與壓力下產(chǎn)生的壓痕，以確定電線(xiàn)電纜絕緣護(hù)套熱延伸性能的試驗(yàn)。與老化試驗(yàn)箱配套使用。符合GB/T2951.31.8-2008標(biāo)準(zhǔn)要求。  

護(hù)套高溫壓力試驗(yàn)裝置主要參數(shù)  

1、試驗(yàn)工位：3個(gè)  

2、刀口深度：0.70±0.01mm  

3、作用于刀片上荷重：1-500g每套  

：鍍鋅材質(zhì)1g一個(gè)、2g兩個(gè)、5g  

一個(gè)、10g一個(gè)、20g兩個(gè)、50g一  

個(gè)、100g兩個(gè)、200g一個(gè)、500g一  

個(gè)。共三套（客戶(hù)自備）。  

也可由提供數(shù)據(jù)定做  

4、材料：不銹鋼   

5、作用于刀片上荷重由公式求得：  

F=k2Dδ-δ2  

護(hù)套高溫壓力試驗(yàn)裝置取樣  

對(duì)每個(gè)被試絕緣線(xiàn)芯，從每個(gè)長(zhǎng)度為250～500mm樣段上截取3個(gè)相鄰的試樣。試樣長(zhǎng)度應(yīng)為50-100mm。  

無(wú)護(hù)套的扁平軟線(xiàn)的絕緣芯不應(yīng)分開(kāi)。  

護(hù)套高溫壓力試驗(yàn)裝置試樣制備  

用機(jī)械方法除去試樣上的所有的護(hù)層，包括半導(dǎo)體電層（若有的話(huà)）。根據(jù)電纜的類(lèi)型，試樣可以是圓形或扇形截面。  

護(hù)套高溫壓力試驗(yàn)裝置試樣的放置  

壓痕裝置如圖1所示，由刀口厚度為（0.70±0.01mm）的矩形刀片組成,刀片可對(duì)試樣加壓.每個(gè)試樣放置在如圖1所示的位置上。無(wú)護(hù)套扁平軟線(xiàn)應(yīng)以扁平邊放置。小直徑試樣在支撐板上的固定方式不應(yīng)使試樣在刀片壓力下發(fā)生彎曲。扇形試樣應(yīng)放置在如圖1所示的帶扇形凹槽的支撐板上，沿垂直于試樣軸線(xiàn)的方向施加壓力，刀片也應(yīng)與試樣軸線(xiàn)垂直。  

護(hù)套高溫壓力試驗(yàn)裝置試樣冷卻  

規(guī)定的加熱時(shí)間結(jié)束后（見(jiàn)1.5試樣加熱），試樣在烘箱中，在壓力作用下應(yīng)訊速冷卻，可用冷水噴射壓在刀口下的式樣來(lái)冷卻。絕緣試樣冷卻至室溫并不再繼續(xù)變形后，從試驗(yàn)裝置中取出，然后浸入冷水中進(jìn)一步冷卻。  

護(hù)套高溫壓力試驗(yàn)裝置壓痕測(cè)量：  

試樣冷卻后立即測(cè)量壓痕深度。  

應(yīng)抽出導(dǎo)體留下管狀絕緣試樣。  

應(yīng)沿著試樣的軸線(xiàn)方向，垂直于壓痕從試樣上切取一窄條試片，如圖2所示。  

將窄條試片平放在讀數(shù)顯微鏡或測(cè)量投影儀下，并將十字線(xiàn)調(diào)到壓痕底部和試片外測(cè)（如圖2示）  

外徑約6mm及以下的小試樣應(yīng)在壓痕處和壓痕附近橫向切取兩個(gè)試片（如圖3示）。壓痕深度應(yīng)是剖面圖1和剖面圖2在顯微鏡下的測(cè)量值之差（如圖3所示）  

全部測(cè)量值均以mm計(jì)，到小數(shù)點(diǎn)后兩位。  

護(hù)套高溫壓力試驗(yàn)裝置試驗(yàn)結(jié)果的評(píng)定：  

從每個(gè)試樣上切取的三個(gè)試片上測(cè)得壓痕中間值，應(yīng)不大于試樣絕緣厚度（按1.4測(cè)量）平均值的50%。  

（注：所定的50%這個(gè)值與公式的基本原則有關(guān)，并且對(duì)所有材料都是一樣的。試驗(yàn)嚴(yán)格程度僅隨系數(shù)K的變化而變化，但50%這個(gè)值不變）。